亚洲欧美在线观看,国产精品久久久久久久久久久不卡,奇优电影手机版免费,欧美午夜精品久久久久久久久久 ,久久人人爽人人人人片av,曰本女人一级毛片看一级,国产麻豆精品免费喷白浆视频,日韩在线视频网,日本阿v视频高清在线中文,羞羞视频免费网站日本,亚洲影视一区二区三区

咨詢熱線

18971121198

當前位置:首頁  >  技術文章  >  MC方案|硅片厚度測量

MC方案|硅片厚度測量

更新時間:2019-06-03      點擊次數:2139

光學膜厚儀 膜厚儀、測厚儀、干涉儀、厚度測量儀

FR的工具基于白光反射光譜(Reports),準確同步的厚度測量及薄膜的折射率一個廣泛的多樣化的應用范圍廣泛的光電特性的工具和整體解決方案,如:

半導體、有機電子、聚合物、涂料和涂料、光伏、生物傳感、化學傳感……


 


 


邁可諾技術有限公司
  • 聯系人:鄧經理
  • 地址:洪山區珞獅南路147號未來城A棟
  • 郵箱:sales@mycroinc.com
  • 傳真:
關注我們

歡迎您關注我們的微信公眾號了解更多信息

掃一掃
關注我們
版權所有©2025邁可諾技術有限公司All Rights Reserved    備案號:    sitemap.xml    總訪問量:605865
管理登陸    技術支持:化工儀器網